HORIBA堀場集團向各行業領域提供高品質的分析與測試儀器，49家分公司遍布全球27個國家。 

我們的業務涉及汽車測試、科學儀器、過程和環境儀器、體外診斷和半導體儀器等。我們已在全球市場展示出自己的優勢，尤其在汽車排放和煙道氣測量、空氣污染、水污染監控、不同行業的質控以及臨床診斷等領域。過去幾年來，我們取得了長足發展。讓我們感到高興和自豪的是，我們的分析和測量業務為全球的環保、**和健康事業做出貢獻，并為解決能源問題助一臂之力。我認為正是這種自豪感促使我們提供更具競爭力的產品。 

擁有自豪感和勇于挑戰的精神，以充沛的體力和激情投入到工作中去，譜寫一個更加令人滿意的人生。我們將更加快樂過好每**的愿望融入企業哲學，這一精神自企業創建以來一直代代相傳。遍布全球的大約7,000名堀場人（這樣稱呼的原因是我們把堀場集團的所有員工都看成是一家人）是我們企業發展的源泉，他們能夠正確理解“新奇、有趣”這一企業哲學，并在日常工作和生活中很好地貫徹。 

我們將一如既往地以自豪的態度和勇于迎接挑戰的精神為社會做出貢獻。 

CombiScope

生物型納米拉曼光譜儀

CombiScope原子力顯微鏡（AFM）是一種先進的研究平臺，為生物學、光譜學和光子學領域的研究人員提供了進入通道。如果您在空氣或液體中研究透明樣品納米級結構和（近場）納米光學特性研究，CombiScope是您的*佳解決方案。它**地耦合了倒置光學顯微鏡和原子力顯微鏡，釋放了這兩種技術的所有潛能，提供了儀器調節和測量、高分辨和高速成像。此外，它可以很容易地耦合我們的拉曼光譜儀。

高效、易操作

CombiScope配備了全電動懸臂架和光電二極管定位，具有自動一鍵點式激光-針尖準直功能。這大大簡化了整個系統調整過程，并提供了*高水平的系統再現性。此外，在安裝相同或甚至不同類型的新懸臂梁后，樣品表面上的相同感興趣區域（在幾微米的重復性范圍內）可以很容易地找回并掃描，而無需任何額外的操作。

**掃描器

CombiScope配備精密運動控制***PI公司提供的閉環、高動態、3軸壓電納米定位掃描器。**掃描器是該系統的核心，使其能夠實現高線性、高穩固性和高精準性運動。

1300 nm AFM激光器

1300nm原子力顯微鏡反饋激光和常用的紫外、可見光和近紅外拉曼激光（364-830 nm）毫無相互干擾，并且消除了對可見光敏感生物和半導體樣品的任何干擾。

耦合光學顯微鏡

倒置光學顯微鏡：尼康Eclipse Ti-U、Olympus IX-71等（具有相位反差和DIC）

平場消色差物鏡：頂部100x，NA=0.7；側向10x，NA0.28

耦合透射和反射（頂部）光路配置，利用光學、拉曼和掃描探針顯微鏡技術研究透明和非透明樣品

在液體中工作的解決方案

標準的CombiScope樣品架可容納所有常見的樣品襯底，包括載玻片、蓋玻片和35 mm培養皿。特殊設計的液體池具有加熱和液體灌注功能，可在生理環境和高達60°C的溫度維系下生物樣品。

一臺儀器即可實現所有操作模式

CombiScope平臺在一臺儀器中配備了所有現代AFM操作模式，無需任何額外硬件和成本。它包括諸如力模式、納米蝕刻、壓電力顯微鏡（PFM）、開爾文探針顯微鏡和調頻AFM（內置PLL的動態力顯微鏡）等特殊應用模式。此外，也可以選配掃描隧道顯微鏡（STM）頭和導電AFM在100 fA–10μA范圍內工作（1 nA、100 nA和10μA三檔量程自由切換，1nA量程的電流噪聲為60 fA）和近場光學顯微鏡（SNOM）。CombiScope特殊多功能性平臺已經成為納米科學的**解決方案。

測量模式

空氣中接觸AFM；

液體接觸AFM（可選）；

空氣中的半接觸原子力顯微鏡；

液體半接觸原子力顯微鏡（可選）；

真正的非接觸式原子力顯微鏡；

動態力顯微鏡（DFM、FM-AFM）；

耗散力顯微鏡；

Top模式；

相位成像；

側向力顯微鏡（LFM）；

力調制；

導電原子力顯微鏡（可選）；

I-Top模式（可選）；

磁力顯微鏡（MFM）；

開爾文探針（表面電位顯微鏡）；

單通開爾文探頭；

電容顯微鏡（SCM）

電力顯微鏡（EFM）；

單通道MFM/EFM（“平面掃描”）；

力曲線測量；

壓電響應力顯微鏡（PFM）；

PFM Top模式；

納米光刻技術；

納米操縱；

STM（可選）；

光電流成像模式（可選）；

伏安特性測量（可選）；

帶音叉的剪切力顯微鏡（ShFM）；

音叉法向力顯微鏡。

液體測量模式（測試頭HE001）

接觸模式AFM；

半接觸原子力顯微鏡；

Top Mode；

相位成像；

側向力顯微鏡；

力調制；

力曲線測量；

納米蝕刻；

納米操縱。

SmartSPM掃描器和基座

閉環平板掃描器： 100 μm x 100 μm x 20 μm (±10 %)

掃描器非線性：XY≤0.05 %; Z≤0.05 %

噪聲水平：XY≤0.1 nm RMS（200 Hz帶寬，電容傳感器打開）；XY≤0.02 nm RMS（100 Hz帶寬，電容傳感器關閉）；Z＜0.1 nm RMS （1000 Hz帶寬，電容傳感器開）

高頻掃描器：XY≥7 kHz; Z≥15 kHz

基座

• 手動樣品定位范圍：25 mm×25 mm
• 電動SPM測量頭定位范圍：1.6 mm×1.6 mm
• 電動趨近量程：1.3 mm
• 標準載玻片和蓋玻片樣品架
• 樣品尺寸（可選）：≥50.8 mm×50.8 mm×5 mm（中心25 mm×25 mm范圍內可以任意區域成像）

AFM測試頭HE001

激光波長：1300nm

激光對生物樣品無影響；

激光對光電測量無影響

系統噪聲：< 0.03 nm

全電動：4步進電機用于懸臂和光電二極管自動對準；

探針通道：為外部操作和探針提供自由通道

頂部和側向同時光路通道：帶平消色差物鏡，可同時10x，NA0.28頂部物鏡和20x，NA0.42側向物鏡

液體電池（可選）

手動樣品定位：15x15mm，定位分辨率1um；

培養皿支架：直徑35mm；

液體體積：1.5-2.5ml；

液體交換：雙管道

導電力AFM（選購）

電流范圍：100fA~10μA;

三檔量程自動切換（1nA, 100nA和10μA）

電壓范圍：-10~ +7V

電流噪聲：≤60fA（1nA量程）

兼容倒置光學顯微鏡：

紅外激光對光學成像無干擾；

可兼容以下顯微鏡：

尼康Ti-E、Ti-U、Ti-S、TE2000；奧林巴斯IX-71，IX-81；

相位反差、DIC和熒光技術（需本征光學聚光器）；

可升級到TRIOS平臺，用于光譜和TERS操作。

光學顯微鏡

數值孔徑：NA 0.1；

放大倍率：從85x到1050x（19英寸監視器，1/3英寸CCD）；

水平視野：4.5～0.37mm；

手動變焦：12.5倍；

粗/精對焦單元：

兼容平顯色差物鏡：10x，NA 0.28和20x，NA 0.42和100x，NA0.7（取決于AFM測試頭）

軟件系統

自動準直系統；

自動配置標準測量技術；

自動調節懸臂梁共振頻率；

能夠處理力曲線；

宏語言Lua，用于編程用戶函數、腳本和小構件；

能用DSP宏語言對控制器進行實時編程，無需重新加載控制軟件；

在坐標空間處理圖像的能力，包括制作橫截面、擬合和高達8級的多項式曲面減法；

FFT處理，具有在頻率空間處理圖像的能力，包括濾波和分析；

納米蝕刻和納米操縱；

高達5000x5000像素圖像的處理能力