HORIBA堀場集團向各行業領域提供高品質的分析與測試儀器，49家分公司遍布全球27個國家。 

我們的業務涉及汽車測試、科學儀器、過程和環境儀器、體外診斷和半導體儀器等。我們已在全球市場展示出自己的優勢，尤其在汽車排放和煙道氣測量、空氣污染、水污染監控、不同行業的質控以及臨床診斷等領域。過去幾年來，我們取得了長足發展。讓我們感到高興和自豪的是，我們的分析和測量業務為全球的環保、**和健康事業做出貢獻，并為解決能源問題助一臂之力。我認為正是這種自豪感促使我們提供更具競爭力的產品。 

擁有自豪感和勇于挑戰的精神，以充沛的體力和激情投入到工作中去，譜寫一個更加令人滿意的人生。我們將更加快樂過好每**的愿望融入企業哲學，這一精神自企業創建以來一直代代相傳。遍布全球的大約7,000名堀場人（這樣稱呼的原因是我們把堀場集團的所有員工都看成是一家人）是我們企業發展的源泉，他們能夠正確理解“新奇、有趣”這一企業哲學，并在日常工作和生活中很好地貫徹。 

我們將一如既往地以自豪的態度和勇于迎接挑戰的精神為社會做出貢獻。 

SmartSPM

先進原子力顯微鏡

SmartSPM掃描探針顯微鏡是**個100%自動化的系統，它為所有AFM和STM模式下的納米級先進材料研究提供了快速、計量和高分辨率測量的**技術。SmartSPM可以從達到100μm范圍掃描到原子級分辨率掃描。它能夠與光學光譜（SNOM、Raman、光致發光和TERS/SERS技術）無縫耦合。

操作完全自動化

全自動激光-光電二極管準直

更換針尖簡單方便

豐富的各種測量模式

系統調試速度快

分辨率/穩定性/**度

閉環平板掃描器即可實現100μm大范圍掃描，也可實現分子/原子分辨率掃描。

標準測量無需隔振系統。

低噪音傳感器設計保證了在分子分辨率成像過程中也能打開閉環，獲得準確的結果。

快速掃描

采用業界*高的高共振頻率掃描器（XY>7kHz和 Z>15kHz），優化的掃描器控制算法可以輕松實現快速掃描。

標配幾乎所有SPM模式，無需添加任何附件和額外成本

包括開爾文探針顯微鏡，壓電響應力顯微鏡，納米蝕刻和納米操縱。

輕松升級到納米拉曼光譜儀

SmartSPM無論從軟件設計到硬件設計都能與拉曼系統進行無縫的耦合。

測量模式

?空氣中接觸AFM；

?液體接觸AFM（可選）；

?空氣中的半接觸原子力顯微鏡；

?液體半接觸原子力顯微鏡（可選）；

?真正的非接觸式原子力顯微鏡；

?動態力顯微鏡（DFM、FM-AFM）；

?耗散力顯微鏡；

?Top模式；

?相位成像；

?側向力顯微鏡（LFM）；

?力調制；

?導電原子力顯微鏡（可選）；

?I-Top模式（可選）；

?磁力顯微鏡（MFM）；

?開爾文探針（表面電位顯微鏡）；

?單通開爾文探頭；

?電容顯微鏡（SCM）

?電力顯微鏡（EFM）；

?單通道MFM/EFM（“平面掃描”）；

?力曲線測量；

?壓電響應力顯微鏡（PFM）；

?PFM Top模式；

?納米光刻技術；

?納米操縱；

?STM（可選）；

?光電流成像模式（可選）；

?伏安特性測量（可選）；

?帶音叉的剪切力顯微鏡（ShFM）；

?音叉法向力顯微鏡。

SmartSPM掃描器和基座

閉環平板掃描器： 100 μm x 100 μm x 15 μm (±10 %)

掃描器非線性：XY≤0.05 %; Z≤0.05 %

噪聲水平：XY≤0.1 nm RMS（200 Hz帶寬，電容傳感器打開）；XY≤0.02 nm RMS（100 Hz帶寬，電容傳感器關閉）；Z<0.04 nm RMS （1000 Hz帶寬，電容傳感器開）

高頻掃描器：XY≥7 kHz; Z≥ 15 kHz

X, Y, Z自動趨近：XYZ數字閉環控制，Z向馬達趨近距離18mm

樣品尺寸：40 mm x 50 mm x 15 mm

樣品定位：自動樣品臺范圍：5 mm x 5 mm

定位精度：1μm

AFM測試頭HE001

激光波長：1300nm

激光對生物樣品無影響；

激光對光電測量無影響

系統噪聲：< 0.03 nm

全電動：4步進電機用于懸臂和光電二極管自動對準；

探針通道：為外部操作和探針提供自由通道

頂部和側向同時光路通道：帶平消色差物鏡，可同時10x，NA0.28頂部物鏡和20x，NA0.42側向物鏡；

AFM測試頭HE002

激光波長：1300nm

激光對生物樣品無影響；

激光對光電測量無影響；

系統噪聲：< 0.1 nm

全電動：4步進電機用于懸臂和光電二極管自動對準；

探針通道：為外部操作和探針提供自由通道；

頂部和側向同時光路通道：帶平消色差物鏡，可同時高達100x，NA0.7側向物鏡和10x，NA0.28頂部物鏡

 *HE002不兼容液體模式。

光學顯微鏡

數值孔徑：NA 0.1；

放大倍率：從85x到1050x（19英寸監視器，1/3英寸CCD）；

水平視野：4.5～0.37mm；

手動變焦：12.5倍（電動變焦可選）；

粗/精對焦單元：

兼容平顯色差物鏡：10x，NA 0.28和20x，NA 0.42和100x，NA0.7（取決于AFM測試頭）；

液體池（可選）

樣品尺寸：φ25mm×2mm；

樣品定位范圍：5 mm x5mm；

定位分辨率：1um；

液體池尺寸：40mm x40mm x12mm；

液體體積：3ml；

液體可交換；

高壓**器和超聲波清洗溶液池部件。

溫控液體池（可選）

樣品尺寸：φ25mm×2mm；

加熱：*高60℃；

冷卻：室溫以下降至5℃；

樣品定位范圍：5 mm x5mm；

定位分辨率：優于1.5um；

液體池尺寸：40 mm x40 mm x12mm；

液體體積：3ml；

液體可交換；

高壓**器和超聲波清洗液體池部件。

導電力AFM（選購）

電流范圍：100fA~10μA;三檔量程自動切換（1 nA, 100 nA 和 10 μA）

電壓范圍：-10~ +7V

電流噪聲：≤60fA（1nA量程）

導電力AFM和KPFM模式可自動切換

側向力和正交力音叉支架（可選）

兼容32,768kHz音叉；

兩種固定音叉的PCB；

音叉振動的壓電陶瓷激勵；

集成低噪聲前置放大器；

兼容側向100倍物鏡TERS\TEPL測量；

兼容頂部10x物鏡

納米壓痕裝置（可選）

*大載荷：5mN

負載噪聲：小于100nN

位移噪聲：小于0.2nm

光學系統的兼容性

紅外激光對光學成像無干擾；

可升級至OmegaScope，用于光譜、光電、SNOM和TERS&TEPL操作

帶光學顯微鏡支架的保護罩（可選）

隔聲：30dB；

具備靜電屏蔽功能；

具有環境控制輸入輸出接口；

100倍物鏡的精細聚焦（可選）：聚焦精度0.2mm；

濕度控制系統（可選）

相對濕度：10%-85%

濕度穩定性：±1%

軟件系統

自動準直系統；

自動配置標準測量技術；

自動調節懸臂梁共振頻率；

能夠處理力曲線；

宏語言Lua，用于編程用戶函數、腳本和小構件；

能用DSP宏語言對控制器進行實時編程，無需重新加載控制軟件；

在坐標空間處理圖像的能力，包括制作橫截面、擬合和高達12級的多項式曲面減法；

FFT處理，具有在頻率空間處理圖像的能力，包括濾波和分析；

納米蝕刻和納米操縱；

高達5000x5000像素圖像的處理能力。